| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,農林牧漁,電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
芯片測試冷熱沖擊檢測實驗箱符合標準：
1、GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件2、GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件3、GB/T5170.2-1996 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備4、GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》5、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《高溫試驗方法Bb》
6、GJB150.3A-2009裝備實驗室環境試驗方法第3部分：高溫試驗
7、GJB150.4A-2009裝備實驗室環境試驗方法第3部分：低溫試驗
8、GJB150.5-1986溫度沖擊試驗
芯片測試冷熱沖擊檢測實驗箱性能參數參考如下：
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠家還免費配高溫至150度）。
二、溫度偏差：±2℃。
三、溫度波動度：±0.5℃。
四、溫度恢復時間：≤5min。
五、溫度恢復條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉移方式：采用氣動驅動。
七、高溫室儲溫的升溫時間：30min (+25℃～+200℃)。
八、低溫室儲溫的降溫時間：65min (+25℃～-75℃)。
九、低溫沖擊試驗機|低溫沖擊機|沖擊試驗機工作時的噪音：（dB）≤65( 標準規定≤65分貝不算噪音）
十、型號 內箱尺寸（mm) 外箱尺寸（mm） 功率（kw)
LQ-TS-49 W360×H350×D400 W1550×H1730×D1440 18.5
LQ-TS-80 W500×H400×D400 W1650×H1830×D1500 23.0
LQ-TS-150 W600×H500×D500 W1750×H1930×D1570 28.0
LQ-TS-225 W500×H750×D600 W1450×H2100×D1670 34.0
LQ-TS-408 W750×H800×D800 W1550×H2150×D1900 42.0
